FS-ProTM半导体参数分析仪是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压（IV）测试、电容电压（CV）测试、脉冲式 IV 测试、高速时域信号采集和低频噪声测试能力，其强大而全面的测试分析能力可极大地加速半导体器件与工艺的研发评估进程。