9812DX 高级低频噪声分析仪为半导体研究提供高精度和高效的噪声功率谱密度分析和时域噪声测量，用于高级工艺优化，用于设计验证和电路评估的建模。
闪变噪声（1/f 噪声）和随机电报噪声（RTN 或 RTS）测量和分析的全部功能

适应较宽的阻抗测量范围，满足宽电压和电流工作条件下对新材料、新器件和集成电路的各种要求

晶圆级高性能和宽带宽测量，电流噪声分辨率高达 10-27A²/赫兹

强大的数据分析和管理功能，具有易于使用的内置测试应用程序库和直观的图形用户界面

与 Primarius 半导体参数测试系统 FS-Pro 配合使用，提供并行测试框架解决方案，显著提高测试效率和吞吐量